EN
產(chǎn)品中心
更多產(chǎn)品 >>
在線式X射線熒光分析儀 XMS
XMS是一款適用于工業(yè)自動化的在線式X射線熒光分析儀，具有快速數(shù)據(jù)采集和分析能力，能夠幫助制造商優(yōu)化工藝流程和提供產(chǎn)品質(zhì)量。
手持式X熒光光譜儀
能夠快速而準確的完成元素定性/定量分析，適用于多種環(huán)境，包括合金分析、PMI材質(zhì)分析，礦石成分分析、土壤重金屬檢測、RoHS 2.0檢測，鍍層測厚、化肥和動物飼料成分分析、鋰電池以及廢舊金屬回收等各行.....
布魯克 科研級手持式XRF分析儀 TRACER 5g
更高精度、更多元素檢測范圍，可測到氟元素的科研級手持式XRF光譜儀
微區(qū)X射線熒光光譜儀M4 TORNADO
微區(qū)X射線熒光光譜分析技術(shù)是對不均勻樣品、不規(guī)則樣品、甚至小件樣品和包裹物進行高靈敏度的、非破壞性的元素分析方法。
TXRF全反射X射線熒光光譜儀S2 PICOFOX
TXRF全反射X射線熒光光譜儀可對固體、粉末、液體、懸浮物、過濾物、大氣飄塵、薄膜樣品等進行定性、定量分析，元素范圍13Al-92U。
微區(qū)X射線熒光成像光譜儀PLUS
M4 TORNADO PLUS 微區(qū)X射線熒光成像光譜儀是能夠檢測出C（6）-Am（95）間元素的微區(qū)X射線熒光成像光譜儀。
便攜臺式xrf分析儀
便攜式XRF分析儀適用于在實驗室內(nèi)外檢測固體,粉末和液體.雖然手持式XRF輕便靈活,適合進行現(xiàn)場檢測,但是,當需要對樣品進行預備時;當樣品為粉末,固體和液體等形態(tài),存放在容器中時;當需要較長時間的檢測.....
新品發(fā)布 - 布魯克 探針式輪廓儀/臺階儀 Dektak Pro
Dektak Pro是布魯克新發(fā)布的一款的探針式輪廓儀/臺階儀，基于第十一代Dektak?系統(tǒng)，具有4 ?重復性的優(yōu)異表現(xiàn)，并提供200毫米平臺選項
布魯克 三維光學輪廓儀 ContourX-200
ContourX系列中的高效能白光干涉儀，配備自動XYZ樣品臺、查找表面功能、拼接及大范圍成像功能。
布魯克 三維光學輪廓儀 ContourX-1000
布魯克白光干涉儀，適用于研究和生產(chǎn)的自校準、具備全自動解決方案的三維光學輪廓系統(tǒng)
布魯克 探針式輪廓儀/臺階儀
能夠?qū)崿F(xiàn)嚴苛的納米水平表面測量，提供更高的重復性和分辨率，不論是性能、易用性還是價格都更具有競爭力的探針式輪廓儀
布魯克 探針式輪廓儀系統(tǒng) / 臺階儀系統(tǒng) Dektak XTL
一款可容納高達 350mm x 350mm 的樣品，適用于大規(guī)格晶圓和面板制造領(lǐng)域、QC（質(zhì)量控制）/QA（質(zhì)量保證）的探針式輪廓儀系統(tǒng)
布魯克 原子力顯微鏡/AFM Dimension Icon
原子力顯微鏡Dimension Icon是一款性能卓越、具備智能成像模式 ( Scan Asyst) 和大樣品臺的原子力顯微鏡
光學輪廓儀ContourGT-X
布魯克光學輪廓儀特性：業(yè)界標桿，大視場下高的垂直分辨率；從0.5x到200x不同放大倍率實現(xiàn)不同面型和織構(gòu)表面的表征；硬件的優(yōu)化設(shè)計進一步的儀器抗噪聲能力、系統(tǒng)靈活性和測量穩(wěn)定性
薄膜應(yīng)力及基底翹曲測試設(shè)備
FSM128系列設(shè)備，裝備有光學掃描系統(tǒng)。
薄膜應(yīng)力及基底翹曲測試設(shè)備
FSM 500TC 200mm 高溫應(yīng)力測試系統(tǒng)可以幫助研發(fā)和工藝工程師評估薄膜的熱力學性能和穩(wěn)定性特性
硅片表面形貌測量
硅片表面形貌測量,材料表面形貌分析
晶圓厚度測量系統(tǒng)
FSM413回波探頭傳感器使用紅外（IR）干涉測量技術(shù)。
I-V 曲線測試儀
PV200為光伏系統(tǒng)提供了一個測試及診斷解決方案
電荷靈敏前置放大器
CUBE（立方）是一種以脈沖復位模式運行的單片電荷靈敏式前置放大器，借助外部電阻器，也可以以連續(xù)復位模式運行。
原子力顯微鏡探針/AFM探針
布魯克AFM探針具有多種款式和型號，能夠滿足多種應(yīng)用領(lǐng)域中的原子力顯微鏡（AFM）解決方案。
檢測服務(wù) - 介紹
承接成分分析、大面積元素分析成像、 材料表面形貌分析等檢測服務(wù)
行業(yè)應(yīng)用
更多應(yīng)用 >>
快速材料成份分析
合金，貴金屬，混凝土，鍍層，地質(zhì)礦石勘探分析，土壤檢測，油品分析，食品安全檢測，化妝品成分檢測等
野外現(xiàn)場分析測試
合金，貴金屬檢測，RoHs篩選，油品，三元催化，石灰石，土壤固廢，環(huán)境檢測，礦石勘探，藝術(shù)考古等
材料成份分析（定性/定量）
冶金，鑄造/鍛造，汽車配件，廢舊金屬回收，機械制造，第三方檢測機構(gòu)，鐵路/船舶，材料鑒定，材料成分檢測技術(shù)文章
更多文章>>微束XRF技術(shù)分析食品污染物與營養(yǎng)成分
2025-09-16直讀光譜儀：驅(qū)動新能源汽車關(guān)鍵部件的高質(zhì)效“元素守門人”
2025-08-18應(yīng)用分享 | 布魯克手持式光譜儀在地礦領(lǐng)域的應(yīng)用
2025-07-31微束大面積元素成像光譜儀解密羅馬劍：M4 TORNADO重現(xiàn)日耳曼戰(zhàn)士的獻祭之刃
2025-07-14精準高效，品質(zhì)護航：便攜式熒光光譜儀助力化妝品重金屬快檢
2025-07-02測氟難？TRACER 5G手持XRF破局！
2025-06-13書中真的有黃金！ - 浙江大學圖書館館藏古籍顏料檢測報告
2025-05-30應(yīng)用分享丨全反射X射線光譜儀檢測大米中砷元素的含量
2025-04-2530秒極速檢測！Bruker Q2 ION光譜儀：中小企業(yè)金屬分析專家
2025-03-07當藝術(shù)邂逅科技丨揭秘19世紀水彩復制品的色彩之謎
2025-02-14新聞資訊
更多新聞>>
會議邀請 | 成都電子科技大學布魯克微區(qū)X射線熒光成像光譜儀技術(shù)及應(yīng)用分享
2025-05-14
2025年5月20日 周二 10：00 地址：成電國際創(chuàng)新中心C棟403（分析測試中心）
會議邀請 | 成都電子科技大學布魯克微區(qū)X射線熒光成像光譜儀技術(shù)及應(yīng)用分享
2025-05-14守護文明密碼:古籍無損分析革命 | 微區(qū)XRF與高光譜成像聯(lián)用技術(shù)網(wǎng)絡(luò)研討會
2025-04-11攜手同行，定義“芯”高度丨鉑悅儀器邀請您一同參與Semicon China 2025
2025-03-18置換活動 | 光譜儀以舊換新 不限品牌 不限型號
2024-10-17新品上市 | 布魯克推出先進的臺式探針式輪廓儀---新型Dektak Pro
2024-09-30會議邀請 | 河北農(nóng)業(yè)大學布魯克全反射TXRF技術(shù)與應(yīng)用交流會
2024-07-24會議邀請 | 河北農(nóng)業(yè)大學布魯克微區(qū)X射線熒光成像光譜儀技術(shù)及應(yīng)用分享
2024-07-012024年Bruker Tracer用戶培訓會順利舉辦
2024-04-18Semicon｜鉑悅儀器邀請您一同參與Semicon China 2024
2024-03-19限時限量 | 鉑悅儀器二十周年大促（已結(jié)束）
2023-10-24電話：86-021-37018108
傳真：86-021-57656381
郵箱：info@boyuesh_com.meirange.com
地址：上海市松江區(qū)莘磚公路518號松江高科技園區(qū)28幢301室
視頻號
滬公網(wǎng)安備 31011702008990號
